Available item(s) by this author

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering / Mario Birkholz

Public ISBD Názov : Thin Film Analysis by X-Ray Scattering Typ materiálu: printed text Autor(i): Mario Birkholz, Author Editor: Weinheim : Wiley-CH Verlag GmbH a. Co. KGaA Dátum publikovania: 2006 Strany: 356 s. ISBN (alebo iný kód): 978-3-527-31052-4 Jazyky : English (eng) Thin Film Analysis by X-Ray Scattering [printed text] / Mario Birkholz, Author . - Weinheim : Wiley-CH Verlag GmbH a. Co. KGaA, 2006 . - 356 s. ISBN : 978-3-527-31052-4 Jazyky : English (eng)

Rezervácia

Zarezervovať exemplár

Exempláre

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	Status
01344L	L	Kniha	Knižnica FÚ SAV	Monografie	Vypožičané do 11/06/2023